Laboratorio

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Ext: 3810

Analista de laboratorio

John Deiver Bonilla Jaimes

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Ext: 3810

Sugerencias sobre el servicio

Mayerlin Núñez | Coordinadora de Innovación y extensión

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Ext: 2736

Coordinación de Laboratorios de Investigación

Cesar Augusto Talero

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Ext: 3825

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Difracción de Rayos X a muestras policristalinas *

Toma de datos por difracción de rayos X de muestras policristalinas. Equipo con configuración Bragg-Brentano; geometría convencional; rango de barrido de 5° - 90° 2Theta y radiación Cu Kα.

Toma de datos por difracción de rayos X de muestras policristalinas y análisis cualitativo (identificación) de las posibles fases cristalinas presentes. Rango de barrido de 5° - 90° 2Theta y radiación Cu Kα.

Toma de datos por difracción de rayos X de muestras policristalinas, análisis cualitativo (identificación) y cuantitativo (mediante el método de Rietveld) de las posibles fases cristalinas presentes en la muestra. Rango de barrido de 5° - 90° 2Theta y radiación Cu Kα.

Observación: Las concentraciones reportadas corresponderán a la relación entre las fases cristalinas que se logran refinar sin considerar el material amorfo que pudiese estar presente.

Otro tipo de solicitud.
*Evaluar con el laboratorio de Difracción y Fluorescencia de Rayos X.

Difracción de Rayos X a muestras Monocristalinas *

Cantidad de muestras a analizar *

Descuentos por cantidad superior a 10 muestras

Consultorías científicas especializadas *

Información adicional *

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